| 是否进口：否 | 品牌：美国Bruker | 型号：GT-K/GT-X |
| 尺寸：分辨率0.1nm | 类型：光学测量 | 适用范围：用于较大样品表面形貌、粗糙度、三维轮廓的快速测试 |
| 重量：N | 加工定制：是 | 规格：N |
特征：
◆ ***的垂直分辨率，大的测量性能；
l 0.5~200倍的放大倍率；
l 任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程；
l 高分辨率摄像头；
◆ 测量硬件的独特设计，增强生产环境中的可靠性和重复性；
l 较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力
l 的自动校准能力；
◆ 多核处理器下运行的Vision64? 软件，大大提高三维表面测量和分析速度
l 数据处理速度提高几十倍；
l 分析速度提高十倍；
l 无以伦比的大量数据无缝拼接能力；
◆ 高度直观的用户界面，拥有***的实用性，操作简便和分析功能强大
l 优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程；
l 独特的可视化操作工具；
l 可自行设置数据输出的界面；
部分选择项：
可编程控制150mm(6in)自动样品台
可选操纵手柄
可选高速聚焦；
可选缝合功能；
可选XY自动移动功能
参数：
XY样品台： 150mm（6in）手动样品，样品台±6°倾斜调整
Z方向聚焦： 计算机自动控制聚焦
光学组件模块： 最***双LED照明电源；自动视场目镜转台；自动滤波片切换；
物镜： 可共焦物镜：2.5X，5X，10X，20X，50X；100X；
长焦物镜：1X，1.5X，2X，5X，10X；
物镜搭台： 单物镜适配器或四位置自动塔台；
处理器： 多核，Windows? 7.0；
系统软件： Vision64 操作和分析软件；
可选分析软件： MATLAB?, SureVision, TCP/IP Control, ThickFilm, Annular, Optical
其他自动化： 标准自动光强设定；标准摄像头自动聚焦
校准： 手动，使用可追溯标准样品；
Z方向扫描范围： 0.1nm至10mm
扫描速度： 28.1?m/sec
样品重量： 4.5kg (10lbs)
垂直方向分辨率： <0.1nm
RMS重复性： 0.01nm
反射率： <0.01 to ***
台阶高度测量： 不确定度：0.75%；
重复性：<0.08% 1σ
